Formation - Microscopie à force atomique (AFM)

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Environnement scientifique et technique de la formation

Institut de chimie physique

- UMR 8000

RESPONSABLES

Ariane DENISET-BESSEAU

Maître de conférences

UMR 8000

Alexandre DAZZI

Professeur

UMR 8000

Jérémie MATHURIN

Ingénieur de recherche

UMR 8000

LIEU

ORSAY (91)

ORGANISATION

2,5 jours
De 3 à 6 stagiaires

MÉTHODES PÉDAGOGIQUES

Alternance de cours (4 h), de travaux pratiques (8 h) et d'ateliers (4 h)
Tout au long de la formation, des exercices pratiques et des discussions permettront au stagiaire d'évaluer son avancement et son degré de compréhension des données acquises et des processus physiques en jeu.
Un fichier au format PDF sera mis à disposition du stagiaire.

COÛT PÉDAGOGIQUE

1224 Euros

A L'ISSUE DE LA FORMATION

Evaluation de la formation par les stagiaires
Envoi d'une attestation de formation

DATE DU STAGE

25110 : du lundi 23/06/2025 au mercredi 25/06/2025 à ORSAY

2025

Janvier	Février	Mars	Avril
Mai	Juin 25110	Juillet	Août
Sept	Oct	Nov	Déc

OBJECTIFS

Connaître la théorie relative au fonctionnement du microscope à force atomique (AFM) : interactions physiques entre la sonde et la surface et les aspects de contrôle et asservissements électroniques du microscope

Etre capable de prendre en main un microscope AFM

Maîtriser l'imagerie en mode contact et mode oscillant sur des échantillons standards calibrés puis sur échantillons réels

Avoir une introduction à la spectroscopie de force

Etre initié au traitement de données standard sur les résultats obtenus

PUBLICS

Ingénieurs, techniciens

Afin d'adapter le contenu du stage aux attentes des stagiaires, un questionnaire téléchargeable ICI devra être complété et renvoyé au moment de l'inscription.

PRÉREQUIS

Niveau Bac +3 en physique-chimie
Notions de base en mécanique et sur les interactions moléculaires

PROGRAMME

1^er jour
Matin : partie pratique
- Principe de fonctionnement d'un microscope à champ proche à force atomique (AFM)
- Présentation de la technologie et des différents modes de fonctionnement
- Imagerie en mode statique
- Spectroscopie de force

Après-midi : mise en pratique des modes présentés : spectroscopie, imagerie

2^ème jour
Matin :
- Présentation du mode oscillant
- Discussion sur la résolution et les artefacts de mesure

Après-midi : mise en pratique du mode oscillant

3^ème jour
La dernière demi-journée sera consacrée à des ateliers libres sur lesquels les stagiaires pourront analyser leurs propres échantillons à des fins pédagogiques sous réserve de l'accord préalable du responsable. Il sera également possible d'introduire les deux modes avancés (nano-IR, analyse thermique) sous forme de démonstrations.

EQUIPEMENT

Microscopes AFM Nanosurf et Bruker

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