L'organisme de formation continue du CNRS
Accueil > Diffraction des rayons X sur matériaux polycristallins - méthodes Rietveld et Le Bail

Formation - Diffraction des rayons X sur matériaux polycristallins - méthodes Rietveld et Le Bail

Se préinscrire ou s'inscrire à cette formation Télécharger ces fiches
Environnement scientifique et technique de la formation

Institut des molécules et matériaux du Mans

- UMR 6283
RESPONSABLES

François GOUTENOIRE

Professeur

UMR 6283

Alain JOUANNEAUX

Maître de conférences

UMR 6283

LIEU

LE MANS (72)

ORGANISATION

4 jours
De 2 à 4 stagiaires

MÉTHODES PÉDAGOGIQUES

Alternance de cours (4 h) et de travaux pratiques (20 h)
Tout au long de la formation, des exercices corrigés permettront au stagiaire d'évaluer son acquisition des connaissances.
Un fichier au format PDF sera mis à disposition du stagiaire.

COÛT PÉDAGOGIQUE

2000 Euros

A L'ISSUE DE LA FORMATION

Evaluation de la formation par les stagiaires
Envoi d'une attestation de formation

DATES DES SESSIONS

Les informations indiquées pour cette page sont valables pour la première session à venir.
Avant de s'inscrire à une autre session, téléchargez son programme car des modifications mineures peuvent y avoir été apportées.

24311 : du mardi 19/11/2024 au vendredi 22/11/2024 à LE MANS

25095 : du lundi 12/05/2025 au jeudi 15/05/2025 à LE MANS

25358 : du mardi 18/11/2025 au vendredi 21/11/2025 à LE MANS

2024
Janvier Février Mars Avril
Mai Juin Juillet Août
Sept Oct Nov
24311		 Déc
2025
Janvier Février Mars Avril
Mai
25095		 Juin Juillet Août
Sept Oct Nov
25358		 Déc
OBJECTIFS
-

Savoir réaliser des affinements type Rietveld et Le Bail


-

Savoir mettre en oeuvre des mesures de diffraction sur des composés organiques ou inorganiques

PUBLIC
Chercheurs, ingénieurs, techniciens travaillant en analyse structurale ou en analyse quantitative ou en analyse des tailles de grains et micro-contraintes
PRÉREQUIS
Notions de cristallographie : périodicité, système cristallin, réseau de Bravais, groupe d'espace
PROGRAMME
La méthode Rietveld est une technique d'affinement de profil global qui dépend notamment de la structure atomique. La technique Le Bail, indépendante du modèle structural, est focalisée sur le profil de diffraction et de ce fait, est plus particulièrement utilisée en analyse microstructurale.

Cours (4 h)
- Rappel des notions de cristallographie
- Aspect théorique de la diffraction sur poudre
- Principe de la mesure des diagrammes de diffraction : méthodes Rietveld et Le Bail

Travaux pratiques (20 h)
- Acquisition (2 h) :
. présentation générale d'un diffractomètre de rayons X sur poudre dans les modes transmission pour les composés organiques et réflexion pour les composés inorganiques
. préparation d'échantillons et réalisation de différentes mesures
- Traitement Rietveld et Le Bail (18 h) : traitement de diagrammes de diffraction X sur poudre de :
. composé monophasé inorganique
. mélange simple de composés inorganiques (analyse quantitative)
. mélange complexe (orientation préférentielle, quantification de phase amorphe, problématique de micro-absorption...)
EQUIPEMENT
Diffractomètre Empyrean (PANalytical), logiciel d'exploitation Jana2006 (logiciel libre de droit). Il est demandé aux stagiaires de venir avec leur ordinateur portable avec le logiciel Jana2006 pré-installé.
INTERVENANTS
S. Auguste (ingénieure d'études), A. Jouanneaux, K. Adil (maîtres de conférences) et F. Goutenoire (professeur)
Avis des stagiaires

"Pour avoir fait un autre stage en méthode Rietveld, je trouve que : le nombre de participants (5) est vraiment parfait, les supports sont très pédagogiques nombreux et complets, le contenu de la formation est complet avec des parties qui sont habituellement peu abordées ou survolées dans d'autres formations." Sandrine S., Institut de recherche